NXP Semiconductors FRDMGD3160DSBHB 하프 브리지 평가 보드

NXP Semiconductors FRDMGD3160DSBHB 하프 브리지 평가 보드는 2개의 GD3160 단일 채널 게이트 드라이브 장치와 함께 제공되는 하프 브리지 평가 키트입니다. 이 키트에는 PC와의 인터페이스를 위한 Freedom KL25Z 마이크로컨트롤러 하드웨어가 포함되어 있습니다. GD3160 게이트 드라이브 장치의 SPI(직렬 주변 장치 인터페이스) 레지스터와 통신할 수 있는 FlexGUI 소프트웨어와 함께 설치됩니다. 이 장치는 데이지 체인 또는 독립형 구성으로 사용할 수 있습니다.

특징

VE-Trac™ 듀얼 DSB IGBT 모듈에 연결하여 하프 브리지 평가 수행 가능
네거티브 VEE 게이트 로우 드라이브 레벨(-7.5 V DC)
VCCREG 조절된 높은 게이트 드라이브 레벨(+15V DC)
단락 테스트 시 데드타임 오류 보호를 비활성화하기 위해 구성 가능한 점퍼
전원, 접지, 신호 테스트 포인트에 접근 용이성

소프트웨어에는 이중 펄스 및 단락 테스트 기능이 포함되어 있어 설치 및 PC를 통한 SPI 인터페이스용으로 FlexGUI를 쉽게 사용할 수 있습니다.
AMUXIN 및 AOUT을 통한 로우 측 드라이버의 DC 링크 버스 전압 모니터
NTC(부온도 계수) 연결 및 모듈 온도 모니터링을 위해 구성 가능