Texas Instruments LMG34XX-BB-EVM GaN 시스템 평가 보드

Texas Instruments LMG34XX-BB-EVM GaN 시스템 평가 보드는 LMG3410-HB-EVM과 같은 LMG341x 하프 브리지 보드를 동기식 벅 변환기로 구성하는 사용하기 쉬운 브레이크아웃 보드입니다. 이 평가 모듈은 전력단, 바이어스 전원, 로직 회로를 제공함으로써 GaN 장치 스위칭을 빠르게 측정할 수 있습니다. 이 평가 모듈은 최대 작동 온도가 초과되지 않도록 적절한 열 관리(강제 공기, 저주파 작동 등)로 최대 8A의 출력 전류를 제공할 수 있습니다. Texas Instruments LMG34XX-BB-EVM은 개방 루프 보드이므로 과도 측정에는 적합하지 않습니다.

보드에서 생성된 보완 펄스 폭 변조 신호와 해당 데드타임을 제공하는 단일 펄스 폭 변조 입력이 필요합니다. 프로브 포인트를 통해 짧은 접지 스프링이 있는 오실로스코프 프로브로 주요 로직 및 전력 단파형을 측정할 수 있습니다.

특징

최대 600V의 입력 전압으로 작동
짧은 접지 스프링 프로브를 가진 오실로스코프 프로브로 로직 및 전력단 측정을 위한 편리한 프로브 포인트

LMG341x 도터 카드의 하프 브리지 성능을 평가하는 간단한 개방 루프 설계
데드 타임이 50ns 미만인 PWM 신호를 위한 보드의 단일 PWM 입력부

필수 장비

DC 전압 소스
- 평가 모뮬 입력에 최대 480V까지 공급 가능
DC 바이어스 소스
- 최대 0.7A에서 12V 출력 가능
함수 발생기
- 원하는 작동 범위에서 듀티 사이클 및 주파수를 조절할 수 있는 0~5V 구형파 출력 가능
- 50~200kHz의 스위칭 주파수로 LMG3410-HB-EVM 및 LMG34XX-BB-EVM을 작동하도록 권장
오실로스코프
- 최소 200MHz 작동 가능
- 정확한 측정을 위해 짧은 접지 스프링을 갖춘 1GHz 이상의 오실로스코프 및 프로브