Texas Instruments ESDEVM 평가 모듈(EVM)

Texas Instruments ESDEVM 평가 모듈(EVM)을 통해 대부분의 TI ESD 포트폴리오를 평가할 수 있습니다. 이 보드는 모든 장치를 테스트할 수 있도록 기존의 모든 ESD 설치 공간이 제공된 상태로 출시됩니다. 테스트해야 하는 장치는 관련 영역에 납땜한 다음 테스트할 수 있습니다. 일반적인 고속 ESD 장치의 경우 임피던스 제어 레이아웃을 구현하여 S-파라미터를 취하고 보드 트레이스를 빼낼 수 있습니다. 비 고속 ESD 다이오드의 경우, 트레이스가 테스트 포인트로 이동하는 설치 공간이 제공됩니다. 이 테스트 포인트를 통해 사용자는 브레이크다운 전압, 홀딩 전압, 누설 등과 같은 DC 테스트를 쉽게 실행할 수 있습니다. 보드 레이아웃을 사용하면 신호 핀을 신호 중 어느 하나와 단락시킴으로써 디바이스 핀을 전원 (VCC) 또는 접지에 쉽게 연결할 수 있습니다.

특징

  • 대부분의 TI ESD 장치 테스트 가능
  • 각 부분을 테스트할 수 있는 많은 설치 공간
  • 신호 무결성을 위한 S-파라미터 테스트
게시일: 2018-07-11 | 갱신일: 2025-03-13