onsemi EVBUM2897G-EVB 평가 보드
onsemi EVBUM2897G-EVB평가 보드는 다양한 디스크리트 패키지의 엘리트 SiC MOSFET 및 IGBT를 비교 측정하도록 설계되었습니다. onsemi EVBUM2897G-EVB보드를 사용하면 6가지 패키지 유형(TO247-3LTO247-4LD2PAK-7L BPAK7, TOLL 및POWER88)에서 디바이스의 스위칭 성능을 빠르게 테스트하고 평가할 수 있습니다. 이 시스템은 성능 테스트 및 디바이스 비교를 위한 효율적인 솔루션을 제공하며, 간소화된 운영을 위한 개별 DPT 기능을 갖추고 있습니다.
특징
- 70µm 구리 두께의 4-레이어 FR4 PCB
- 낮은 유도용량 PCB 레이아웃
- 최대 1,200V 디바이스까지 지원하도록 설계
- 2.5kV 절연이 적용된 절연 싱글 게이트 드라이버
- 전해질 또는 필름 커패시터 DC 링크 옵션
- 통합 전류 측정 변압기
- 통합 권선형 공기 인덕터80µH
- DC 링크 최대 1,100V
애플리케이션
- SiC MOSFET 및 IGBT의 스위칭 성능 테스트
- 다양한 개별 디바이스 패키지 간 성능 비교
- TO247-3LTO247-4LD2PAK-7L BPAK7, TOLL 및 POWER88패키지로 디바이스 평가하기
블록 선도
도터 카드
onsemi EVBUM2909G-EVK 도터 카드
개별 더블 펄스 테스터용으로 설계된 확장 세트 EVBUM2897입니다.
게시일: 2025-01-20
| 갱신일: 2025-03-09