Nexperia NEVB-NPS1001평가 보드의 VIN 및 VOUT 연결과 PCB 레이아웃 라우팅은 테스트 중인 디바이스에 저저항 경로를 제공합니다. 테스트 포인트 연결을 통해 사용자는 사용자 정의 테스트 조건으로 디바이스를 제어하고 정확한 RON 측정을 수행할 수 있습니다.
특징
- 입력 전압은 테스트 포인트 J3(VIN)을 통해 공급할 수 있으며, VIN 범위는 0.5V~1.8V 입니다.
- 또는 TP4, TP5, TP6 및 TP7에 GND 테스트 포인트가 있습니다.
- 디커플링 커패시터는 EVB 입력부의 VIN과 부하 스위치 IC 근처에 연결되며 출력부도 동일하게 구성되어 있습니다.
- 테스트 부하는 J4 단자 (VOUT)에 연결할 수 있습니다.
- 인에이블 핀(EN)과 바이어스 핀(BIAS)은 모두 핀 헤더와 소형 테스트 포인트에 편리하게 연결할 수 있어 외부 소스로 핀을 구동하는 동안 오실로스코프를 원활하게 연결할 수 있습니다.
- 입력 혹은 출력의 정확한 측정이 필요한 경우 VIN_Sense (TP2) 및 VOUT_Sense (TP8)가 사용됩니다.
애플리케이션
- 휴대 전화
- 웨어러블 기기
NEVB-NPS1001 옵션 활성화
레이아웃
게시일: 2025-08-10
| 갱신일: 2025-09-05

