Broadcom AFBR-S4N44P014M NUV-MT 실리콘 광전자 증배기
Broadcom AFBR-S4N44P014M NUV-MT 실리콘 광전자 증배기는 단일 광자의 초민감 정밀도 측정에 최적화된 단일 채널 SiPM입니다. AFBR-S4N44P014M은 NUV-HD 기술에 비해 다크 카운트율과 누화가 감소하고 향상된 PDE(광검출 효율성)을 결합한 NUV-MT 기술을 활용합니다. 여러 개의 AFBRS4N44P014M SiPM을 타일링하여 넓은 영역을 커버할 수 있습니다.
에폭시 투명 몰드 컴파운드로 캡슐화하여 우수한 기계적 안정성과 견고성을 제공합니다. 자외선 파장까지 매우 투명하여 가시광선 스펙트럼에서 청색 및 근자외선 영역에 대한 높은 감도로 폭넓게 반응합니다.
Broadcom AFBR-S4N44P014M은 40µm SPAD 피치를 제공합니다. 이 장치는 낮은 수준의 펄스 광원, 특히 가장 일반적인 유기(플라스틱) 및 무기 신틸레이터 소재(예: LSO, LYSO, BGO, NaI, CsI, BaF, LaBr3)의 체렌코프 또는 신틸레이션 광을 감지하는 데 이상적입니다.
특징
- 높은 PDE(420nm에서 63%)
- 4면 타일링 가능, 높은 충전률
- 40μm 셀 피치
- 고투명 에폭시 보호층
- -20°C~+60°C의 작동 온도 범위
- 우수한 SPTR 및 CRT
- 장치 간 항복 전압 및 이득의 우수한 균일성
- RoHS, CFM 및 REACH 규격 준수
애플리케이션
- X선 및 감마선 감지
- 핵 의학
- 양전자 방출 단층 촬영
- 안전 및 보안
- 물리 실험
- 체렌코프 감지
블록 선도
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게시일: 2023-05-09
| 갱신일: 2023-05-12