Analog Devices Inc. EVAL-CN0565-ARDZ EIT 측정 시스템

Analog Devices EVAL-CN0565-ARDZ EIT(전기 임피던스 단층 촬영) 측정 시스템은 표면의 내부 임피던스를 특성화하고 계산하도록 설계되었습니다. 이 시스템은 다른 위치에 배치된 전극에서 반복되는 여러 측정을 사용하여 전도성 맵을 재구성합니다. EVAL-CN0565-ARDZ는 최대 24개의 전극으로 임피던스 측정 설정을 지원합니다. 이 설계 장치는 한 쌍의 8 × 12 아날로그 교차점 스위치를 사용하여 여자 신호를 한 쌍의 전극에 적용할 수 있습니다. 회로는 교차점 스위치를 구현하여 임피던스 측정을 극대화하여 구성된 이미지의 분해능을 개선할 수 있습니다.