Analog Devices Inc. ADATE318 단일 칩 솔루션
Analog Devices ADATE318은 폭넓은 유형의 ATE 및 계장 애플리케이션을 위한 완전한 싱글 칩 솔루션을 제공합니다. ADATE318은 4-쿼드런트 PPMU(per pin, parametric measurement unit)를 사용하여 DCL(드라이버, 비교기 및 능동 부하)의 핀 전자장치 기능을 수행합니다. ADATE318의 칩 단위 VHH 드라이브 기능은 플래시 메모리 테스트 애플리케이션을 지원합니다. 온칩 보정 엔진이 있는 통합형 16비트 DAC는 작동을 위해 필요한 모든 DC 레벨을 제공합니다. 또한, 보정 기능은 각 기능 블록에 대한 이득 및 오프셋 오류도 보정합니다. 설계자는 ADATE318을 이중, 단일 종단 구동/수신 채널 또는 단일 차동 구동/수신 채널로 사용할 수 있습니다. 각 채널에는 고속 윈도우 비교기뿐 아니라 프로그래밍 가능 임계값 차동 비교기도 있습니다. 4 쿼드런트 PPMU 솔루션을 포함한 이 단일 칩, 이중 통합 DCL은 -1.5~+6.5V에서 작동하고 최대 600MHz의 데이터 속도를 제공합니다.Designers can use the ADATE318 from Analog Devices as a dual, single-ended drive/receive channel or as a single differential drive/receive channel. Each channel includes a high-speed window comparator as well as a programmable threshold differential comparator. This single-chip, dual integrated DCL with a four-quadrant PPMU solution operates from -1.5V to +6.5V and delivers data rates up to 600MHz.
특징
- 600MHz/1200Mbps data rate
- 3-level driver with high-Z and reflection clamps
- Window and differential comparators
- Per pin PPMU with −2.0V to +6.5 V range
- Low leakage mode (typically 4nA)
- Integrated 16-bit DACs with offset and gain correction
- −1.5V to +6.5V high-speed operating voltage range
- 0.0V to 13.5V dedicated VHH output pin range
- 1.1W power dissipation per channel
- Driver
- −1.5V to +6.5V 3-level voltage range
- Precision trimmed output resistance
- 200mV minimum to 8V maximum unterminated swing
- 725ps minimum pulse width, VIH − VIL = 2.0V
- Per pin PPMU (PPMU)
- −2.0V to +6.5V force voltage/compliance range
- 5 current ranges: 40mA, 1mA, 100μA, 10μA, 2μA
- External sense input for system PMU
- Go/no-go comparators
- Comparator
- Differential and single-ended window modes
- >1.2GHz input equivalent bandwidth
- Load
- ±25mA current range
- Levels
- Fully integrated 16-bit DACs
- On-chip gain and offset calibration registers and add/multiply engine
- Package
- 84-lead 10mm × 10mm LFCSP (0.4mm pitch)
애플리케이션
- Automatic test equipment
- Semiconductor test systems
- Board test systems
- Instrumentation and characterization equipment
게시일: 2017-10-30
| 갱신일: 2022-04-28
