특징
- 일반적인 고장 모드는 과도 사양 전압이나 전류로 인한 단락으로 발생
- 위스커 검사는 표 4a 및 4c에 제시되어 있는 바와 같은 JEDEC JESD201A 기반
- IEC-61000-4-2 ESD 15kV(공중), 8kV(접촉)
- IEC 61000-4-2(IEC801-2)에 따른 데이터 라인 ESD 보호
- IEC 61000-4-4에 따른 데이터 라인 EFT 보호(IEC801-4)
- 내장형 응력 완화 장치
- VBR @TJ= VBR@25°C x (1+αT x (TJ - 25)) (αT: 온도 계수)
- 유리 부동태화 칩 접합
- 10/1,000μs 파형에서 3,000W 피크 펄스 전력 성능, 반복율(듀티 사이클): 0.01%
- 빠른 응답 시간: 0~BVmin에서 보통 1.0ps 미만
- 12V 이상에서 IR이 보통 2μA 미만
- 고온 납땜 보장: 단자 부위에서 160°C/10초
- 플라스틱 패키지는 UL 주관의 실험 난연성 94V-O 충족
- J-STD-020 기준 MSL 레벨 1 충족, 260°C의 LF 최대 피크
- 무광택 주석 무연 도금
- 무할로겐 및 RoHS 규격 준수
애플리케이션
- I/O 인터페이스
- VCC 버스 및 기타 취약한 회로
- 전기 통신
- 컴퓨터
- 산업용
- 소비자 가전 애플리케이션
게시일: 2014-09-16
| 갱신일: 2023-05-17

